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[发明专利]一种缺陷样本图像的生成方法、装置、电子设备及介质-CN202310159952.7在审
发明人：郭斌;李晓波;马振烁 -专利权人：北京远舢智能科技有限公司
申请日： 2023-02-21 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种缺陷样本图像的生成方法、装置、电子设备及介质，所述生成方法包括：获取对产品进行无损检测过程中的目标射线底片；基于预先构建的多种缺陷库中，确定目标种类的目标缺陷库，并从所述目标缺陷库中确定一目标缺陷图像；基于目标缺陷图像中缺陷的种类对应的缺陷位置规则、目标射线底片中的焊缝，确定目标缺陷图像在焊缝中的目标位置；将所述目标缺陷图像融合在目标射线底片中焊缝的目标位置处，得到携带目标种类缺陷的缺陷样本图像，从而能够生成数量足够的缺陷样本图像，为训练深度学习模型提供更为丰富的、优质的样本以及更好的泛化能力，得到高精确的缺陷检测模型。
一种缺陷样本图像生成方法装置电子设备介质

[发明专利]一种缺陷图像的生成方法、装置、电子设备及存储介质-CN202210606077.8在审
发明人：范钊宣;戴虎;罗兵华;陈杰 -专利权人：上海高德威智能交通系统有限公司
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种缺陷图像的生成方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：将目标噪声图像输入预先训练得到的缺陷掩膜生成模型，生成目标噪声图像对应的目标缺陷掩膜；将目标缺陷掩膜输入预先训练得到的特写图像生成模型，生成目标缺陷掩膜对应的目标缺陷特写图像；获取包括待模拟目标的真实图像，并将目标缺陷特写图像融合到真实图像，得到目标缺陷图像。缺陷掩膜生成模型基于真实的缺陷图像对应的掩膜与随机噪声图像对应的掩膜对抗训练得到，可以基于目标噪声图像生成观感真实的目标缺陷掩膜，进而特写图像生成模型可以生成观感真实的目标缺陷特写图像，将目标缺陷特写图像融合到真实图像的待模拟目标上，可以得到目标缺陷图像。
一种缺陷图像生成方法装置电子设备存储介质

[发明专利]缺陷处理方法、装置、设备及存储介质-CN202310195415.8在审
发明人：施金华;贾希贝 -专利权人：北京百度网讯科技有限公司
申请日： 2023-02-24 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：本公开提供了一种缺陷处理方法、装置、设备、存储介质以及程序产品，涉及计算机技术、数据处理技术领域，尤其涉及软件缺陷处理技术领域。具体实现方案为：针对多个参与方中的任意一个目标方，响应于针对目标缺陷的确认指令，根据目标缺陷的候选来源，确定目标来源，其中，目标缺陷的处理方为目标方，目标缺陷的处理方是根据包括目标缺陷的目标代码的代码标签得到的；候选来源由处理目标缺陷的处理方确定；以及响应于处理方对目标缺陷的修改操作，确定目标方缺陷分析数据。
缺陷处理方法装置设备存储介质

[发明专利]缺陷样本图像生成方法、装置、设备及存储介质-CN202211459234.3有效
发明人：黄耀;徐兴鹏 -专利权人：北京阿丘科技有限公司
申请日： 2022-11-16 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及工业数据处理技术领域，公开了一种缺陷样本图像生成方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取原始缺陷工业样本图像，根据预设缺陷图像特征和所述原始缺陷工业样本图像生成目标缺陷标注图；根据所述目标缺陷标注图构建目标点集和源点集；根据所述目标点集和所述源点集生成目标缺陷块图像；获取正常工业样本图像，将所述目标缺陷块图像和所述正常工业样本图像进行融合，得到目标缺陷样本图像；通过上述方式，根据目标缺陷标注图构建的目标点集和源点集生成目标缺陷块图像，然后目标缺陷块图像和正常工业样本图像融合出目标缺陷样本图像，从而能够提高生成目标缺陷样本图像的效率，且生成过程中所需的样本图像少以及资源消耗低。
缺陷样本图像生成方法装置设备存储介质

[发明专利]缺陷筛选方法、产品分类方法、装置和计算机设备-CN202211069630.5在审
发明人：张武杰;胡昌欣;李丹;杨莹莹 -专利权人：中科慧远视觉技术（北京）有限公司;中科慧远视觉技术（洛阳）有限公司
申请日： 2022-09-01 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G06F16/54 文献下载
摘要：本申请提供了一种缺陷筛选方法、产品分类方法、装置和计算机设备，该方法包括：获取多个待筛选缺陷；根据多个待筛选缺陷的特征量构建数据空间，并将数据空间划分为多个相互独立的子空间，多个待筛选缺陷为数据空间中的点集；对于多个待筛选缺陷中的目标待筛选缺陷，根据目标待筛选缺陷的目标关键特征，将目标待筛选缺陷划分至目标关键特征对应的目标子空间中；若目标待筛选缺陷的约束特征满足目标子空间所对应添加的约束条件，则确定目标待筛选缺陷为缺陷；若不满足目标子空间所对应添加的约束条件，则确定目标待筛选缺陷为非缺陷。本申请，能够准确地区分出待筛选缺陷是缺陷还是非缺陷，提高工业产品的质量检测效果。
缺陷筛选方法产品分类装置计算机设备

[发明专利]变电缺陷关键信息抽取方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211236139.7在审
发明人：黄智华;李辉;刘洪兵;侯斌;罗昕宇;邹学翔;陈文海;谢逸丰;宋庆;李玥昊;苏东平;王云开;陈梦圆;李雄梁;贺玉凤;周涵宇;周雅欣 -专利权人：云南电网有限责任公司昆明供电局
申请日： 2022-10-10 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G06F16/335 文献下载
摘要：本申请涉及一种变电缺陷关键信息抽取方法、装置、电子设备及存储介质，该变电缺陷关键信息抽取方法包括：对变电缺陷数据进行标注得到目标变电缺陷数据；将目标变电缺陷数据输入目标抽取模型中，采用“半指针‑半标注”的结构对目标变电缺陷数据进行抽取，得到目标关键语义特征，包括目标变电缺陷数据中的关键语义特征和目标变电缺陷数据中缺失的关键语义特征；对目标关键语义特征进行语义梳理，得到变电缺陷关键信息；变电缺陷关键信息包括变电缺陷的发生原因和变电缺陷的解决措施这样，使用“半指针‑半标注”结构进行目标关键语义特征提取，可较全面地提取到目标变电缺陷数据中的三元组，避免最终得到的变电缺陷关键信息存在缺失。
变电缺陷关键信息抽取方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种缺陷检测方法及装置、电子设备-CN202310323147.3在审
发明人：曹聪聪;马领玉 -专利权人：云谷（固安）科技有限公司
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G06F18/243 文献下载
摘要：本申请提供了一种缺陷检测方法及装置、电子设备。缺陷检测方法包括：获取待检测的显示面板的灰阶数据；基于待检测的目标缺陷，对灰阶数据进行特征提取，得到目标特征数据；从预先存储的缺陷与缺陷条件的对应关系中，确定与目标缺陷对应的目标缺陷条件；检测目标特征数据中是否存在数据满足目标缺陷条件；若存在，则确定显示面板存在目标缺陷。如此，实现了针对显示面板中目标缺陷的直接、快速、准确检测，有效提高了检测效率。
一种缺陷检测方法装置电子设备

[发明专利]输电线路金具目标检测和缺陷识别方法及终端-CN202010572240.4在审
发明人：潘成龙;张宇;刘东剑 -专利权人：深圳金三立视频科技股份有限公司
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种输电线路金具目标检测和缺陷识别方法及终端，方法包括：分别构建输电线路的目标数据集和目标缺陷数据集；通过深度学习方法获取目标检测预训练模型；根据所述目标检测预训练模型和目标数据集训练得到目标检测模型；通过深度学习方法获取目标缺陷预训练模型；根据所述目标缺陷预训练模型和目标缺陷数据集训练得到目标缺陷分类模型；根据所述目标检测模型和目标缺陷分类模型对待检测图像依次进行目标检测和缺陷识别分类。本发明采用深度学习的方式进行目标检测和缺陷识别，具有更高的检测精度和更好的缺陷类别可扩展性，且检测速度更快。
输电线路目标检测缺陷识别方法终端

[发明专利]用于监测冲压生产线缺陷的系统和方法-CN202111244127.4在审
发明人：拉吉·索姆谢蒂;T·沙克;伊丽莎白·布拉德;弗朗西斯·马斯拉;B·舒尔茨 -专利权人：福特全球技术公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本公开提供了“用于监测冲压生产线缺陷的系统和方法”。一种检查冲压生产线上的冲压坯料的方法包括：识别给定冲压坯料构型的至少一个目标缺陷位置，其中独特缺陷类型与所述至少一个目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置相关联。利用分配到所识别的目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置的一个或多个相机，获取按照所述给定冲压坯料构型冲压的坯料上的所述至少一个所识别的目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置的一个或多个图像。所述方法包括：分析所述至少一个所识别的目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置的所述一个或多个图像，并且检测是否存在与所述至少一个目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置相关联的所述独特缺陷类型。此外，每个独特缺陷类型利用对应的独特缺陷识别算法进行识别。
用于监测冲压生产线缺陷系统方法

[发明专利]一种绝缘子的缺陷预警方法、装置、系统、设备及介质-CN202310389435.9有效
发明人：池小佳;林立鹏;李晓明;肖晓江;邢文忠;肖建华;郑寅;李暖群;陈衡涛;李秀标;胡冠球;熊鑫欣;先友前;刘滨涛;黄文驰;陈冬沣;张建峰;吴慰东 -专利权人：广东电网有限责任公司揭阳供电局
申请日： 2023-04-13 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01N29/44 文献下载
摘要：本发明公开了一种绝缘子的缺陷预警方法、装置、系统、设备及介质。该方法包括：获取与目标绝缘子的电场数据匹配的至少一个芯棒缺陷的描述信息，并获取与目标绝缘子的超声导波数据匹配的至少一个伞裙缺陷的描述信息；根据目标绝缘子的芯棒缺陷以及伞裙缺陷的描述信息，获取目标绝缘子的各芯棒缺陷以及各伞裙缺陷的缺陷评分、缺陷类型权重以及缺陷位置权重；根据目标绝缘子每个芯棒缺陷以及每个伞裙缺陷的缺陷评分、缺陷类型权重以及缺陷位置权重，计算得到目标绝缘子的缺陷总分；根据目标绝缘子的缺陷总分以及目标绝缘子当前运行环境，对目标绝缘子进行缺陷预警采用上述技术方案，能够精准定位绝缘子的各个缺陷，并对绝缘子进行缺陷预警。
一种绝缘子缺陷预警方法装置系统设备介质

[发明专利]一种缺陷分析方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211739371.2有效
发明人：刘媛媛;王玉柱;施志洋;华佑南;罗晓丹;李晓旻 -专利权人：胜科纳米（苏州）股份有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种缺陷分析方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取包含目标对象的待分析缺陷图片，并确定所述目标对象在所述待分析缺陷图片中所在的目标区域，其中，所述目标对象存在缺陷；获取预先定义的目标缺陷颜色，并基于所述目标缺陷颜色在所述目标区域中确定目标异常区域；确定所述目标异常区域相较于所述目标区域的异常比例，并基于所述异常比例，对所述目标对象所存在的缺陷进行分析。本发明实施例的技术方案，能够实现精准的缺陷分析。
一种缺陷分析方法装置电子设备存储介质

[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质-CN202010907198.7有效
发明人：艾立夫;赵东峰;董立超;刘宝山;刘艺;朱春霖;彭旭 -专利权人：歌尔股份有限公司
申请日： 2020-09-02 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质，该方法包括：构建已标定缺陷尺寸的目标晶圆；采集目标晶圆对应的缺陷图像，并获取目标晶圆对应的缺陷图像的灰度值；确定目标晶圆标定的缺陷尺寸，以根据所述目标晶圆对应的缺陷图像的灰度值与所述目标晶圆标定的缺陷尺寸获得缺陷尺寸映射函数；基于所述缺陷尺寸映射函数，获取待测试晶圆对应的缺陷尺寸。由此，通过利用目标晶圆对应的缺陷图像的灰度值与目标晶圆标定的缺陷尺寸获得缺陷尺寸映射函数，进而利用缺陷尺寸映射函数及晶圆中缺陷图像的灰度值实现晶圆任何尺寸缺陷的检测。
缺陷检测方法装置设备计算机存储介质

[发明专利]一种应用程序的缺陷分析方法、装置、设备及介质-CN202210073094.X在审
发明人：黎玥嵘;张雪艳;华海博 -专利权人：中国农业银行股份有限公司
申请日： 2022-01-21 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种应用程序的缺陷分析方法、装置、设备及介质。该方法包括：当平台即服务系统中存在发生缺陷的目标应用程序时，获取平台即服务系统对应的缺陷日志及目标应用程序编号及目标应用程序发生缺陷的时间戳信息；利用目标应用程序编号及目标应用程序发生缺陷的时间戳信息在缺陷日志中进行关键字匹配，得到缺陷日志中目标应用程序的缺陷特征，并将缺陷特征进行组合生成目标应用程序的缺陷特征向量；将目标应用程序的缺陷特征向量输入至预先设定的缺陷分析模型中，输出目标应用程序对应的缺陷解决方案。通过本发明实施例的技术方案，能够实现自动定位应用程序的缺陷并输出对应的缺陷解决方案，减小了工作量，提高了测试效率。
一种应用程序缺陷分析方法装置设备介质

[发明专利]缺陷检测方法和相关装置、设备、存储介质-CN202210806856.2在审
发明人：曾元;暴天鹏;吴立威 -专利权人：深圳市商汤科技有限公司
申请日： 2022-07-08 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G06V10/74 文献下载
摘要：本申请公开了一种缺陷检测方法和相关装置、设备、存储介质，缺陷检测方法包括：获取待进行缺陷检测的目标图像；基于目标图像中待检测缺陷所处目标结构对应的结构类型，确定用于对目标图像进行缺陷检测的目标网络模型，其中，不同的结构类型对应的目标网络模型不同；利用目标网络模型对目标图像进行缺陷检测。上述方案，能够提高缺陷检测的准确度。
缺陷检测方法相关装置设备存储介质

[发明专利]缺陷分析方法、相关设备及可读存储介质-CN202210937624.0在审
发明人：朱红;杨庆娜;张峰境;柏颖;周国栋 -专利权人：飞腾信息技术有限公司
申请日： 2022-07-29 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本申请提供一种缺陷分析方法、相关设备及可读存储介质，涉及计算机技术领域。其中，该方法应用于服务器，该方法包括：获取目标芯片设计代码对应的缺陷信息；其中，目标芯片设计代码对应的缺陷信息包括目标缺陷的发现层级、目标缺陷对应的复现信息、目标缺陷出现的次数、目标缺陷被发现的阶段中的至少一种；基于目标芯片设计代码对应的缺陷信息，执行第一处理，应用本申请实施例，可以根据目标芯片设计代码的缺陷信息的不同而执行不同的第一处理，实现对目标芯片设计代码中目标缺陷的全面分析，可以有效提高缺陷分析效率，
缺陷分析方法相关设备可读存储介质

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